Mikroskop atomske sile
-
atomski afm mikroskop
Blagovna znamka: NANBEI
Model: AFM
Mikroskop atomske sile (AFM), analitični instrument, ki se lahko uporablja za preučevanje površinske strukture trdnih materialov, vključno z izolatorji.Preučuje površinsko strukturo in lastnosti snovi tako, da zazna izjemno šibko medatomsko interakcijo med površino vzorca, ki ga je treba testirati, in elementom, občutljivim na mikro silo.
